1970, изд-во: Издательство "МИР", город: Москва, стр. : 336 с., обложка: Тканевый переплет, формат: Энциклопедический, состояние: Очень хорошее - хорошее (небольшой надрыв тканевой обложки по нижнему краю, владельческие подписи на форзаце, развороте с содержанием, нахзаце, подчеркивания и записи в тексте). За последние годы метод спектрофотометрии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) получил широкое распространение в практике научных исследований. В книге рассмотрены преимущества метода НПВО по сравнению с классическими методами пропускания и обычного отражения. Обсуждены возможности метода применительно к решению большого круга задач в области физики, химии, в различных областях техники, в биологии и т. д. Приводятся примеры как уже осуществленных, так и возможных приложений метода к изучению структуры поверхности массивных тел и тонких пленок, и в частности поверхностных свойств полупроводников. Рассмотрены приложения метода в области изучения полимеров, поверхностных соединений, химических реакций, адгезии, адсорбции и т. д. Книга представляет большой интерес для специалистов-спектроскопистов, работающих в различных областях науки и техники, физиков, биологов
