Малви Т., Скотт В.Д., Рид С.Дж.Б., Кокс М.Дж.К., Лав Г., Количественный электронно-зондовый микроанализ

1986, изд-во: Мир, город: Москва, стр. : 352 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Отличное. В книге авторов из Великобритании рассматривается электронно-зондовый метод количественного анализа материала поверхности твердого тела по спектральному составу и интенсивности индуцированного излучения. Содержится глубокий анализ физических принципов метода, рассматривается взаимодействие электронов с твердым телом. Особое внимание уделено вопросу перехода от измеренных интенсивностей излучения к концентрациям элементов в пробе. Изложены методы расчета поправок на атомный номер, поглощение и флуоресценцию. Для широкого круга специалистов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей