Боуэн Д.,Таннер Б., Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография.

изд-во: Наука, город: Санкт-Петербург, стр. : 274 с., ил., обложка: Издательский твердый переплет, формат: Увеличенный, состояние: Отличное. В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники