Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении.
Под.ред. Амелинкса С., Геверса Р.. Дж. Ван.Ланде. Пер. с англ.

1984, изд-во: Металлургия, город: Москва, стр. : 504 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Очень хорошее, владельч. подпись на форзаце. Изложены структурные методы исследования твердых тел: дифракционная электронная микроскопия, рентгенография, нейтронография, рентгеновская топография, дифракция медленных электронов, автоионная микроскопия.